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扫描设置

扫描前,可针对当前扫描工程设置扫描参数。

激光扫描

拼接模式

拼接方式
描述
标志点
标志点拼接 利用标志点完成拼接,适用于具有丰富规则几何特征的物体(如汽车轮胎)、基本无几何特征的平坦区域且对精度有一定要求的场景。 支持 3 mm、6 mm 和 12 mm 标志点。
框架点拼接 利用标志点完成拼接,适用于缺乏丰富、多变几何特征的物体且对精度要求较高的场景。 支持 3 mm、6 mm 和 12 mm 标志点。
特征拼接 利用被扫描物体表面的几何特征自动完成拼接,适用于具有丰富几何特征或无法粘贴标志点的物体。
/

说明

使用特征拼接模式进行扫描,请确保扫描仪剩余电量 > 25%。

光源模式

支持交叉线和平行线两种光源模式。

光源模式 描述
38 线(交叉线) 此模式适用于对物体的快速扫描。
7 线(平行线) 此模式适用于对物体的细节扫描。

扫描对象

支持普通反光两种扫描对象模式;扫描反光物体时,选择反光,可提升扫描效果。

亮度调节

为了提升扫描质量,建议您在扫描前,根据相机窗口显示,调整至合适的扫描亮度后进行扫描。相机窗口的红色点表示过曝点,当红色过曝点区域过大时,请降低相机亮度;当相机窗口显示过暗时,请提高相机亮度,直到亮度合适。

模型质量色谱

以色谱的形式展示扫描质量,蓝色代表扫描到的数据质量高,黄色代表扫描不充分,需要进一步扫描。扫描不充分的数据在数据处理后可能会消失或显示异常。

说明

此功能在扫描框架点时不可用。

强光模式

开启后可在强光环境(如户外)下正常扫描获取物体数据。

注意

扫描物体时,请尽量避免阳光直射。

局部视角

开启后扫描界面只展示扫描物体的局部视角,可用于对细小孔洞的补充扫描。

说明

工程点距为 0.2 mm 以下时,建议开启该功能。

视角锁定

开启后扫描界面的三维场景将不再跟随扫描仪的移动而变化,可用于扫描物体的当前面。

调整点距

可在扫描前和暂停扫描后,拖动滑动条或输入点距数值,实时调整点距。

说明

  • 若当前工程组内的子工程数量超过 1,则第二个以及之后创建的子工程不可使用此功能。
  • 暂停扫描后,可修改当前工程的分辨率;修改后建议结合质量色谱,对质量较低的区域(黄色区域)再次进行扫描。

红外扫描

  • 相机窗口

    预览扫描仪相机获取的实时画面,通过相机窗口预览效果可以辅助扫描数据。

  • 亮度

    为了提升扫描质量,建议您在扫描前,根据相机窗口显示,调整至合适的扫描亮度后进行扫描。相机窗口的红色点表示过曝点,当红色过曝点区域过大时,请降低相机亮度;当相机窗口显示过暗时,请提高相机亮度,直到亮度合适。

    说明

    单击 即可开启自动曝光,扫描时自动进行亮度调节。

    Col

    亮度过高

    Col

    亮度过低

    Col

    亮度合适


  • 工作距离调节

    针对不同大小的物体及拼接需求,需要通过拖动滑块以调节扫描仪工作距离。通过此功能,可调整设备扫描的最远和最近距离(单位:mm),设备在扫描时,仅扫描并生成扫描距离内的数据,有效过滤不需要的远处或近处的杂数据,提升数据处理效率。

  • 平面检测

    扫描时在检测到平面或接近平面的区域时,不会扫描这些数据并给予提示,能够减少拼错平面或特征的物体的概率。

    说明

    • 若需扫描平坦或特征少的物体,建议粘贴标志点辅助拼接。
    • 若此功能效果不佳,可尝试使用去除基底功能。
  • 模型质量色谱

    以色谱的形式展示扫描质量,蓝色代表扫描到的数据质量高,黄色代表扫描不充分,需要进一步扫描。扫描不充分的数据在数据处理后可能会消失或显示异常。

    说明

    仅在生成点云前展示色谱。

  • 去除基底

    在扫描预览时智能实时识别最大平面并进行标记,并在扫描过程中屏蔽其下方的的模型数据;您可通过此功能,有效过滤不需要的杂数据,提升数据处理效率。

    说明

    扫描预览过程中标记的唯一平面可实时变化,以扫描预览结束时标记的最后一个平面为准。

  • 调整点距

    通过拖动滑块或单击向上、向下箭头按钮,修改当前单工程的点距大小。

    说明

    • 若当前工程组内的子工程数量超过 1,则第二个以及之后创建的子工程不可使用此功能。
    • 暂停扫描后,可修改当前工程的分辨率;修改后建议结合质量色谱,对质量较低的区域(黄色区域)再次进行扫描。
  • 相机窗口

    预览扫描仪相机获取的实时画面,通过相机窗口预览效果可以辅助扫描数据。

  • 扫描模式

    Col

    框架点拼接模式下,需要先扫描框架点或导入框架点;完成后再切换至扫描点云模式,扫描点云数据。

    Col

    说明

    • 若本地已有框架点文件,可单击 打开框架点文件快捷导入。
    • 扫描点云过程中不支持新增框架点开关。
    • 扫描点云前勾选新增框架点后,扫描过程中将新增识别到的新框架点,但新增的框架点不会保存至打开的框架点文件中。
  • 亮度

    为了提升扫描质量,建议您在扫描前,根据相机窗口显示,调整至合适的扫描亮度后进行扫描。相机窗口的红色点表示过曝点,当红色过曝点区域过大时,请降低相机亮度;当相机窗口显示过暗时,请提高相机亮度,直到亮度合适。

    说明

    单击 即可开启自动曝光,扫描时自动进行亮度调节。

Col

亮度过高

Col

亮度过低

Col

亮度合适

  • 工作距离调节

    针对不同大小的物体及拼接需求,需要通过拖动滑块以调节扫描仪工作距离。通过此功能,可调整设备扫描的最远和最近距离(单位:mm),设备在扫描时,仅扫描并生成扫描距离内的数据,有效过滤不需要的远处或近处的杂数据,提升数据处理效率。

  • 平面检测

    扫描时在检测到平面或接近平面的区域时,不会扫描这些数据并给予提示,能够减少拼错平面或特征的物体的概率。

    说明

    • 若需扫描平坦或特征少的物体,建议粘贴标志点辅助拼接。
    • 若对象所在平面可能会被扫描到并且可能影响拼接,建议使用去除基底功能。
  • 模型质量色谱

    以色谱的形式展示扫描质量,蓝色代表扫描到的数据质量高,黄色代表扫描不充分,需要进一步扫描。扫描不充分的数据在数据处理后可能会消失或显示异常。

    说明

    仅在生成点云前展示色谱。

  • 去除基底

    在扫描预览时智能实时识别最大平面并进行标记,并在扫描过程中屏蔽其下方的的模型数据;您可通过此功能,有效过滤不需要的杂数据,提升数据处理效率。

    说明

    扫描预览过程中标记的唯一平面可实时变化,以扫描预览结束时标记的最后一个平面为准。

  • 调整点距

    通过拖动滑块或单击向上、向下箭头按钮,修改当前单工程的点距大小。

    说明

    • 若当前工程组内的子工程数量超过 1,则第二个以及之后创建的子工程不可使用此功能。
    • 暂停扫描后,可修改当前工程的分辨率;修改后建议结合质量色谱,对质量较低的区域(黄色区域)再次进行扫描。