直接创建特征

支持直接创建 点、 线及 面特征。

抽取特征以创建特征对后即可设置基准：
在左侧目录树中右键点击该特征组，再选择设为基准，即可作为基准对齐的基准或形位公差检验中检验平行度及垂直度的基准。

说明

• 通过直接创建特征方法，均支持直接指定特征为参考特征或测量特征；若定义特征为参考特征，则导入至少一个测量模型后，可以抽取测量特征以生成特征对。
• 可直接在软件界面右上角 设置 > 特征相关处开启自动抽取测量特征，则软件会在创建任一参考特征后自动抽取对应的测量特征。
• 创建特征后，在右侧属性栏中点击 ，即可在左侧目录树及三维场景中高亮显示该对象。

点

在直接创建特征工具栏，点击 点即可展开下拉列表，提供模拟 CMM，锚定、极端位置点及参数化创建方法。

模拟 CMM

模拟实际 CMM（三坐标）探测¹的矩形探测、探针接触或磁盘接触方式，创建点特征。

说明

• 使用 CMM 方法创建点特征前，请先导入参考模型或测量模型。
• 若子方法为矩形，请保证至少有一个已创建的平面，且该约束平面不可与检索方向垂直。

使用模拟 CMM 方法创建点特征及抽取特征的操作步骤如下：

Col

1. 在 点的下拉列表中选择模拟 CMM 即可打开对应窗口。
2. 选择需要使用的子方法：
   • 子方法为矩形：选择已创建的一个平面作为约束平面，并自定义输入检索深度、长度及宽度（mm）和选择方向（点法向 / X 轴 / Y 轴 / Z 轴 / 自定义），定义特征为参考特征。
   • 子方法为探针或磁盘：选择方向（点法向 / 自定义），并自定义输入检索半径（mm）和检索深度（mm），定义特征为参考特征。

3. 相关设置完成后，即可在三维场景的模型上点选以创建点；再点击确认即可保存该点参考特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 点参考对象。

   说明

   若勾选 抽取测量特征（可直接在 设置处开启自动抽取测量特征，则创建点参考特征后会自动抽取对应的测量特征）。

4. 在左侧目录树中右键点击该 点特征组，选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。

5. 在点弹窗中指定对齐对象，点击应用即可创建对应的点测量特征。
6. 此时，将在左侧目录树中对应的点特征组下显示该 点测量对象。

Col

锚定

通过在模型上直接锚定点以创建点特征。

说明

使用锚定方法创建点特征前，请先导入参考模型或测量模型。

使用锚定方法创建点特征及抽取特征的操作步骤如下：

1. 在 点的下拉列表中选择锚定即可启用锚定工具。

2. 在三维场景的模型上点选以创建，在锚定窗口中定义特征为参考特征，再点击应用即可保存该点参考特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 点参考对象。

   说明

   若勾选 抽取测量特征（可直接在 设置处开启自动抽取测量特征，则创建点参考特征后会自动抽取对应的测量特征）。

3. 在左侧目录树中右键点击该 点特征组，选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。

4. 在点弹窗中指定对齐对象及编辑最大距离等参数，点击应用即可创建对应的点测量特征。
5. 此时，将在左侧目录树中对应的点特征组下显示该 点测量对象。

极端位置点

通常在检测不规则工件时，需要测量两个极端位置之间的距离等，则可以先使用此功能以在极端位置创建点特征。

说明

使用极端位置点方法创建点特征前，请先导入参考模型。

使用极端位置点方法创建点特征及抽取特征的操作步骤如下：

Col

1. 在 点的下拉列表中选择极端位置点即可启用极端位置点工具。
2. 在三维场景的参考模型上点选所需创建极端位置点所在的大概曲面，作为计算区域。
3. 在极端位置点窗口中选择方向：
   • 选择指定方向：支持自定义方向（默认）或选择 X 轴 / Y 轴 / Z 轴方向，定义特征为参考特征。
   • 选择线特征：选择已创建的一个线特征的方向，定义特征为参考特征。

4. 相关设置完成后，点击应用即可在三维场景中预览该特征点；再点击确认即可保存该点参考特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 点参考对象。

   说明

   若勾选 抽取测量特征（可直接在 设置处开启自动抽取测量特征，则创建点参考特征后会自动抽取对应的测量特征）。

5. 在左侧目录树中右键点击该 点特征组，选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。

6. 在点弹窗中指定对齐对象及编辑最大距离等参数，点击应用即可创建对应的点测量特征。
7. 此时，将在左侧目录树中对应的点特征组下显示该 点测量对象。

Col

参数化

通过自定义点的坐标以创建点特征。

使用参数化方法创建点特征及抽取特征的操作步骤如下：

Col

1. 在 点的下拉列表中选择参数化即可即可打开对应窗口。
2. 输入 X 坐标、Y 坐标 和 Z 坐标，并定义特征为参考特征。

3. 相关设置完成后，即可在三维场景中预览该特征点；再点击确认即可保存该点参考特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 点参考对象。

   说明

   若勾选 抽取测量特征（可直接在 设置处开启自动抽取测量特征，则创建点参考特征后会自动抽取对应的测量特征）。

4. 在左侧目录树中右键点击该 点特征组，选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。

5. 在点弹窗中指定对齐对象及编辑最大距离等参数，点击应用即可创建对应的点测量特征。
6. 此时，将在左侧目录树中对应的点特征组下显示该 点测量对象。

Col

线

在直接创建特征工具栏，点击 点即可展开下拉列表，提供参数化创建方法。

说明

使用参数化方法创建线特征前，请先导入参考模型或测量模型。

使用参数化方法创建线特征及抽取特征的操作步骤如下：

Col

1. 在 点的下拉列表中选择参数化即可打开对应窗口。
2. 选择需要使用的方式：
   • 起点和方向：自定义起点的 X / Y / Z 坐标位置、方向和线的长度，并定义特征为参考特征。
   • 起点和终点：自定义起点和终点的 X / Y / Z 坐标位置，并定义特征为参考特征。

3. 点击确认即可保存该线参考特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 线参考对象。

   说明

   若勾选 抽取测量特征（可直接在 设置处开启自动抽取测量特征，则创建线参考特征后会自动抽取对应的测量特征）。

4. 在左侧目录树中右键点击该 线特征组，选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。

5. 在线弹窗中指定对齐对象、编辑最大距离和边界排除距离等参数，及设置是否排除杂点，点击应用即可创建对应的线测量特征。
6. 此时，将在左侧目录树中对应的线特征组下显示该 线测量对象。

Col

面

在直接创建特征工具栏，点击 面即可展开下拉列表，支持在 CAD 模型上点选以创建单个平面或者合并为一个平面。

说明

使用在 CAD 模型上点选方法创建面特征前，请先导入参考模型。

使用在 CAD 模型上点选的方法创建面特征及抽取特征的操作步骤如下：

1. 在 面的下拉列表中选择在 CAD 模型上点选 > 创建单个平面 / 合并为一个平面即可启用面特征创建工具。

2. 在三维场景的模型上点选高亮显示的面特征以创建，再在创建单个平面 / 合并为一个平面窗口中定义特征为参考特征，点击确认即可保存该面参考特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 面参考对象。

   说明

   • 若选择合并为一个平面，则仅可点选同一平面内的多个平面。
   • 若勾选 抽取测量特征（可直接在 设置处开启自动抽取测量特征，则创建面参考特征后会自动抽取对应的测量特征）。

3. 在左侧目录树中右键点击该 面特征组，选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。

4. 在面弹窗中指定对齐对象、编辑最大距离和边界排除距离等参数，及设置是否排除杂点，点击应用即可创建对应的面测量特征。
5. 此时，将在左侧目录树中对应的面特征组下显示该 面测量对象。

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1. CMM 探测系统一般由测头和接触式探针构成。探针与被测工件的表面轻微接触，通过测量探针在三维坐标系中的位置，来获取工件上测量点的坐标。 ↩