点

在直接创建特征工具栏，点击 点即可展开下拉列表，提供 CMM、 锚定、 极端位置点、 参数化、 从特征创建及 从截面创建的创建方法。

抽取测量值

若创建的特征为参考特征，则可通过自动或手动方式，抽取对应的测量特征。

说明

除从特征创建方式外，其他创建方式均支持直接指定特征为参考特征或测量特征；若定义特征为参考特征，则导入至少一个测量模型后，抽取测量特征以生成特征对。

• 自动抽取测量值：在软件界面右上角 设置 > 处开启自动抽取测量值或在创建窗口勾选 抽取测量特征，软件会在创建任一参考截面后以默认参数自动抽取对应的测量特征。
• 手动抽取测量值：创建参考特征后，在左侧目录树中右键点击该特征组，选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型；可在抽取弹窗中指定对齐对象及编辑参数。

CMM

模拟实际 CMM（三坐标）探测¹的矩形探测、探针接触或磁盘接触方式，创建点特征。

说明

• 使用 CMM 方法创建点特征前，请先导入参考模型或测量模型。
• 若子方法为矩形，选择的约束平面不可与检索方向垂直。

使用模拟 CMM 方法创建点特征的操作步骤如下：

Col

1. 在 点的下拉列表中选择 CMM 即可打开对应窗口。
2. 选择需要使用的子方法：
   • 子方法为矩形：选择约束平面（XY 平面 / XZ 平面 / YZ 平面 / 已创建的面特征），并自定义输入检索深度、长度及宽度（mm）和选择方向（点法向 / X 轴 / Y 轴 / Z 轴 / 自定义），定义特征为参考特征或测量特征。
   • 子方法为探针或磁盘：选择方向（点法向 / 自定义），并自定义输入检索半径（mm）和检索深度（mm），定义特征为参考特征或测量特征。
3. 相关设置完成后，即可在三维场景的模型上点选以创建点；再点击确认即可新建该点参考特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 点参考对象或该 点测量对象。

Col

锚定

通过在模型上直接锚定点以创建点特征。

说明

使用锚定方法创建点特征前，请先导入参考模型或测量模型。

使用锚定方法创建点特征的操作步骤如下：

1. 在 点的下拉列表中选择 锚定即可启用锚定工具。
2. 在三维场景的模型上点选以创建，在锚定窗口中定义特征为参考特征或测量特征，再点击应用即可保存该点参考特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 点参考对象或该 点测量对象。

极端位置点

通常在检测不规则工件时，需要测量两个极端位置之间的距离等，则可以先使用此功能以在极端位置创建点特征。

说明

使用极端位置点方法创建点特征前，请先导入参考模型。

使用极端位置点方法创建点特征的操作步骤如下：

Col

1. 在 点的下拉列表中选择 极端位置点即可启用极端位置点工具。
2. 在三维场景的参考模型上点选所需创建极端位置点所在的大概曲面，作为计算区域。
3. 在极端位置点窗口中选择方向：
   • 选择指定方向：支持自定义方向（默认）或选择 X 轴 / Y 轴 / Z 轴方向，定义特征为参考特征或测量特征。
   • 选择线特征：选择已创建的一个线特征的方向，定义特征为参考特征或测量特征。
4. 相关设置完成后，点击应用即可在三维场景中预览该特征点；再点击确认即可新建该点特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 点参考对象或该 点测量对象。

Col

参数化

通过自定义点的坐标以创建点特征。

说明

• 使用参数化方法创建点特征前，请先导入参考模型或测量模型。
• 此方法支持指定特征为参考特征或测量特征。
• 若定义特征为参考特征，则导入至少一个测量模型后，可以抽取测量特征以生成特征对。

使用参数化方法创建点特征的操作步骤如下：

Col

1. 在 点的下拉列表中选择 参数化即可打开对应窗口。
2. 输入 X 坐标、Y 坐标 和 Z 坐标，并定义特征为参考特征或测量特征。
3. 相关设置完成后，即可在三维场景中预览该特征点；再点击确认即可新建该点特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 点参考对象或该 点测量对象。

Col

从特征创建

根据已有特征创建新的点特征。

说明

• 使用从特征创建方法创建点特征前，请先导入参考模型或测量模型，且已创建好相应的特征。
• 此方法不支持指定特征：若选择的已有特征为参考特征 / 测量特征，则创建的新特征也同为参考特征 / 测量特征。
• 若创建的是参考特征，则导入至少一个测量模型后，抽取测量特征以生成特征对。

使用从特征创建方法创建点特征的操作步骤如下：

1. 在 点的下拉列表中选择 从特征创建，再选择相应的创建方式，即可打开对应创建窗口。

   创建方式	说明
   点平均	以所选取的点计算平均值后创建出新的点特征。 说明 若选择的特征对中，均包含参考特征，但有一部分没有测量特征，此时平均创建的特征仅有参考值，无测量值。
   从球心	以所选取的球，根据其球心创建出新的点特征。
   从圆心	以所选取的圆，根据其圆心创建出新的点特征。
   槽中心	以所选取的槽，根据其槽中心创建出新的点特征。
   圆锥顶点	以所选取的圆锥，根据其顶点创建出新的点特征。
   直线起点和偏置	以所选取的直线起点创建出新的点特征，可通过输入偏置值调整点的位置。 说明 偏置值处支持输入小数点后 3 位，小数点前最多 13 位的数字；正数表示沿法向偏移。

2. 根据创建要求，选择已有的对应特征，点击确认即可创建新的特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 特征组。

从截面创建

通过在截面上直接锚定点以创建点特征。

说明

• 使用从截面创建方法创建点特征前，请先导入参考模型或测量模型，且至少有一个已创建的截面特征。
• 此方法支持指定特征为参考特征或测量特征。
• 若定义特征为参考特征，则导入至少一个测量模型后，抽取测量特征以生成特征对。

使用从截面创建方法创建点特征的操作步骤如下：

1. 在 点的下拉列表中选择 从截面创建即可打开对应窗口。
2. 选择已有的截面特征，并定义特征为参考特征或测量特征。

3. 相关设置完成后，即可在三维场景的截面线上点选以创建；再点击确认即可新建该点参考特征，并在左侧目录树的 特征模块中显示该 点参考对象或该 点测量对象。

   说明

   移动光标至截面线上时，即可实时预览该特征点；创建后，可以在当前截面线上拖拽该特征点以调整位置。

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1. CMM 探测系统一般由测头和接触式探针构成。探针与被测工件的表面轻微接触，通过测量探针在三维坐标系中的位置，来获取工件上测量点的坐标。 ↩