直接创建特征¶
说明
完成特征创建后,可以在左侧目录树中右键点击该特征组,再选择设为基准,即可作为形位公差检验中检验平行度及垂直度的基准。
点¶
在直接创建特征工具栏,点击
点即可展开下拉列表,提供 CMM,锚定及极端位置点创建方法。
CMM¶
模拟实际 CMM(三坐标)探测1的探针接触和磁盘接触方式,创建点特征。
说明
- 使用 CMM 方法创建点特征前,请先导入参考模型或测量模型。
- 此方法只能创建参考特征。
- 若需抽取特征以生成特征对,请导入至少一个测量模型。
使用 CMM 方法创建点特征及抽取特征的操作步骤如下:
Col
- 在
点的下拉列表中选择 CMM 即可打开对应窗口。 - 选择需要使用的子模式(探针 / 磁盘)和方向(点法向 / 自定义),并自定义输入检索半径(mm)和检索深度(mm)。
- 相关设置完成后,即可在三维场景的模型上点选以创建点;再点击应用即可保存该点参考特征,并在左侧目录树的
特征模块中显示该
点参考对象。 - 在左侧目录树中右键点击该
点特征组,选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。 - 在点弹窗中指定对齐对象,点击应用即可创建对应的点测量特征。
- 此时,将在左侧目录树中对应的点特征组下显示该
点测量对象。
Col

锚定¶
通过在模型上直接锚定点以创建点特征。
说明
- 使用锚定方法创建点特征前,请先导入参考模型或测量模型。
- 此方法只能创建参考特征。
- 若需抽取特征以生成特征对,请导入至少一个测量模型。
使用锚定方法创建点特征及抽取特征的操作步骤如下:
- 在
点的下拉列表中选择锚定即可启用锚定工具。 - 在三维场景的模型上点选以创建,再在锚定窗口中点击应用即可保存该点参考特征,并在左侧目录树的
特征模块中显示该
点参考对象。 - 在左侧目录树中右键点击该
点特征组,选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。 - 在点弹窗中指定对齐对象及编辑最大距离等参数,点击应用即可创建对应的点测量特征。
- 此时,将在左侧目录树中对应的点特征组下显示该
点测量对象。
极端位置点¶
通常在检测不规则工件时,需要测量两个极端位置之间的距离等,则可以先使用此功能以在极端位置创建点特征。
说明
- 使用极端位置点方法创建点特征前,请先导入参考模型。
- 此方法只能创建参考特征。
- 若需抽取特征以生成特征对,请导入至少一个测量模型。
使用极端位置点方法创建点特征及抽取特征的操作步骤如下:
Col
- 在
点的下拉列表中选择极端位置点即可启用极端位置点工具。 - 在三维场景的参考模型上点选所需创建极端位置点所在的大概曲面,作为计算区域。
- 在极端位置点窗口中选择方向:
- 选择指定方向:支持自定义方向(默认)或选择 X 轴 / Y 轴 / Z 轴方向。
- 选择线特征:选择已创建的一个线特征的方向。
- 相关设置完成后,点击预览即可预览极端位置点的创建效果;再点击应用即可保存该点参考特征,并在左侧目录树的
特征模块中显示该
点参考对象。 - 在左侧目录树中右键点击该
点特征组,选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。 - 在点弹窗中指定对齐对象及编辑最大距离等参数,点击应用即可创建对应的点测量特征。
- 此时,将在左侧目录树中对应的点特征组下显示该
点测量对象。
Col

线¶
在直接创建特征工具栏,点击
点即可展开下拉列表,提供参数化创建方法。
说明
- 使用参数化方法创建线特征前,请先导入参考模型或测量模型。
- 此方法只能创建参考特征。
- 若需抽取特征以生成特征对,请导入至少一个测量模型。
使用参数化方法创建线特征及抽取特征的操作步骤如下:
Col
- 在
点的下拉列表中选择参数化即可打开对应窗口。 - 选择需要使用的方式:
- 起点和方向:自定义起点的 X / Y / Z 坐标位置、方向和线的长度。
- 起点和终点:自定义起点和终点的 X / Y / Z 坐标位置。
- 点击应用即可保存该线参考特征,并在左侧目录树的
特征模块中显示该
线参考对象。 - 在左侧目录树中右键点击该
线特征组,选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。 - 在线弹窗中指定对齐对象、编辑最大距离和边界排除距离等参数,及设置是否排除杂点,点击应用即可创建对应的线测量特征。
- 此时,将在左侧目录树中对应的线特征组下显示该
线测量对象。
Col

面¶
在直接创建特征工具栏,点击
面即可展开下拉列表,支持在 CAD 模型上点选以创建单个平面或者合并为一个平面。
说明
- 使用在 CAD 模型上点选方法创建面特征前,请先导入参考模型。
- 此方法只能创建参考特征。
- 若需抽取特征以生成特征对,请导入至少一个测量模型。
使用在 CAD 模型上点选的方法创建面特征及抽取特征的操作步骤如下:
- 在
面的下拉列表中选择在 CAD 模型上点选 > 创建单个平面 / 合并为一个平面即可启用面特征创建工具。 - 在三维场景的模型上点选高亮显示的面特征以创建,再在创建单个平面 / 合并为一个平面窗口中点击应用即可保存该面参考特征,并在左侧目录树的
特征模块中显示该
面参考对象。说明若选择合并为一个平面,则仅可点选同一平面内的多个平面。
- 在左侧目录树中右键点击该
面特征组,选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型。 - 在面弹窗中指定对齐对象、编辑最大距离和边界排除距离等参数,及设置是否排除杂点,点击应用即可创建对应的面测量特征。
- 此时,将在左侧目录树中对应的面特征组下显示该
面测量对象。
-
CMM 探测系统一般由测头和接触式探针构成。探针与被测工件的表面轻微接触,通过测量探针在三维坐标系中的位置,来获取工件上测量点的坐标。 ↩