CMM 创建

CMM 探测系统一般由测头和接触式探针构成，探针与被测工件的表面轻微接触，通过测量探针在三维坐标系中的位置，来获取工件上测量点的坐标。

该方法通过模拟实际 CMM（三坐标）探测的矩形探测、探针接触或磁盘接触方式，创建特征。

说明

• CMM 创建方法仅适用于创建点特征。
• 创建特征前，请先导入参考模型或测量模型。
• 若导入的数据为点云数据（ACS、TXT、XYZ 和 P3），在创建特征时不支持使用 CMM 方式创建。

创建步骤

1. 在 点的下拉列表中选择 CMM 即可打开对应窗口。

2. 选择需要使用的子模式：

   • 子模式为矩形：选择约束平面（XY 平面 / XZ 平面 / YZ 平面 / 已创建的面特征），并自定义输入检索深度、长度及宽度（mm）和选择方向（点法向 / X 轴 / Y 轴 / Z 轴 / 自定义）。
   • 子模式为探针或磁盘：选择方向（点法向 / 自定义），并自定义输入检索半径（mm）和检索深度（mm）。

   说明

   若子模式为矩形，选择的约束平面不可与检索方向垂直。

3. 相关设置完成后，即可在三维场景的模型上点选以创建点；再点击确认即可新建该特征；左侧目录树将显示该对象。

说明

当使用的对齐和当前激活的对齐一致时， 标签将默认显示方向偏差；数值处于偏差范围内将显示为绿色，数值处于偏差范围外将显示为红色。

抽取测量值

创建参考特征后，可通过自动或手动方式，抽取对应的测量特征。

说明

需要导入至少一个测量模型后，再抽取测量特征以生成特征对。

• 自动抽取测量值：在软件界面右上角 设置 > 计算处开启自动抽取测量值或在创建窗口勾选 抽取测量特征，软件会在创建任一参考特征后以默认参数自动抽取对应的测量特征。

  说明

  若存在多个测量对象，请在创建窗口处，选择相应的抽取对象；默认选择第一个测量模型或第一个测量组内的第一个测量模型。

• 手动抽取测量值：创建参考特征后，在左侧目录树中右键点击该特征组，选择抽取测量特征并指定需要抽取的测量模型；可在抽取弹窗中指定对齐对象及编辑参数。

说明

当选择子特征、 2D 特征以及多选或组合内只有子特征、 2D 特征时，在左侧目录树中右键点击该特征组，选择抽取测量特征将直接抽取测量特征，无需选择测量模型。